充入 GIS的SF6 气体应是经过抽检符合表2-8中规定的新鲜
气体。运行一段时间后，由于 SF6 气体在电弧和火花放电作用
下，会被电离和分解，并且与金属离子和气体中杂质作用生成
SF4、SOF2、SO2F2、CUF2、WF6 等化合物，其中 SF4、SOF2、
SO2F2 等低氟硫化物在水、氧含量较多的情况下还会生成 HF4、
SO2、H2SO2 等酸性物质，腐蚀设备造成绝缘件老化、接触不良
等现象。因此，需要定期 （一般半年或一年）进行监测气体纯
度。目前，GIS中普遍采用装设吸附剂来净化气体的措施。吸附
剂是一种微孔型晶体物质，表面积很大，能吸收水分，也能吸附
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第二章 变 电
低氟化物、酸性物质和其他杂质。常用的有活性氧化铝和合成沸
石 （分子筛）两种系列。如发现 GIS内 SF6 气体中杂质含量超
过规定，说明吸附剂可能已经失效，必须进行检查或更换。